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ATGX310涂镀层及薄膜测厚仪奥谱天成
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统,利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。适用于测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能
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MiniTest 70EPK涂镀层及薄膜测厚仪
探头无需选择测量模式,把探头放到被测表面仪器会根据基体材质自动选择测量模式:磁性或者涡流原理口袋式涂层测厚仪技术参数Minitest 70FMinitest 70N量程0-3mm/120milsF
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口袋式涂层测厚仪MiniTest 70涂镀层及薄膜测厚仪
探头无需选择测量模式,把探头放到被测表面仪器会根据基体材质自动选择测量模式:磁性或者涡流原理口袋式涂层测厚仪技术参数Minitest 70FMinitest 70FN量程0-3mm/120milsF
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系列_光学薄膜厚度测量仪涂镀层及薄膜测厚仪ATGX310
成本,更确保了测量的精确性。独特的暗箱室结构,可以确保在任何光亮环境中准确测量。 规格及参数光学系统:标准氘卤组合灯光源准直照明,积分球接收接收器:微型光纤光谱仪波长范围:200-1100测量范围
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MINITEST 1100-4100涂层测厚仪 涂层测厚仪涂镀层及薄膜测厚仪
用于有色金属基体上的绝缘覆层测量FN两用探头:具备F型和N型探头的功能,可用于多种涂层测厚MINITEST技术参数型号 1100 2100 3100 4100
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涂层测厚仪 涂层测厚仪MINITEST 1100-4100涂镀层及薄膜测厚仪
非磁性覆层,而N型探头则适用于测量有色金属基体上的绝缘覆层。与此同时,FN两用探头具备了F型和N型探头的功能。MINI-TEST测厚仪的技术参数如下:型号:1100、2100、3100、4100数据
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创诚致佳7400涂镀层及薄膜测厚仪
耐磨探头,采用SIDSP®技术提升了准确度和重现性。MiniTest7400提供多种探头可选,可适应不同应用需求。此外,还有两用型FN探头,能自动识别基体材料,加快了测量进程。探头特点包括多点校准
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涂镀层及薄膜测厚仪自动型涂镀层测厚仪RESETO
测定涂镀层厚度的专用仪器。德国的“诀窍”说明它在工艺技术及精度方面,具有磁性覆层测厚仪的*高水准。RESETO公司锐丝特涂镀层测厚仪所有仪器均符合DIN、ISO及ASTM标准。RESETO完全自动操作
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马尔自动型涂镀层测厚仪涂镀层及薄膜测厚仪
这款专用仪器已被广泛应用。德国的“诀窍”说明了它在工艺技术及精度方面的高水准。RESETO 公司的锐丝特涂镀层测厚仪符合 DIN、ISO 及 ASTM 标准,完全自动操作。使用时具有以下特性:1.
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马尔自动型涂镀层测厚仪涂镀层及薄膜测厚仪
德国RESETO公司生产的锐丝特涂镀层测厚仪可以精确测量钢铁表面的涂层厚度,包括电镀层、电镀镍层、磷化膜、油漆、粉末涂层以及塑料和橡胶。这款测量仪器已经被广泛应用了三十多年,并且在工艺技术和精度方面
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